Autoridades del Centro Nacional de Metrología de Panamá y CENAM México visitan el INAOE
El pasado jueves 30 de enero, autoridades del Centro Nacional de Metrología de Panamá (CENAMEP AIP) y del Centro Nacional de Metrología en México (CENAM) realizaron una visita al Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica (INAOE), centro de la Secretaría de Ciencia, Humanidades, Tecnología e Innovación (Secihti), con el objetivo de desarrollar proyectos de colaboración.
La comitiva fue recibida por el Dr. Julian David Sánchez de la Llave, director General Interino INAOE; la Dra. Claudia Feregrino Uribe, encargada del Despacho de los Asuntos de las direcciones de Investigación y de Desarrollo Tecnológico; el Dr. Luis Hernández Martínez, coordinador de Electrónica; el Dr. Alfredo Morales, representante docente de dicha área; los doctores Alfonso Torres Jácome, Mario Moreno Moreno y Mónico Linares Aranda, investigadores de la Coordinación de Electrónica; la Dra. Bertha Patricia Guzmán Velázquez, encargada de la Oficina de Vinculación y Planeación Institucional, y la M. C. Janina Nava Ariza, de Vinculación Institucional.
Por parte del CENAMEN AIP se contó con la presencia del Mtro. Javier Arias, director General del Centro Nacional de Metrología de Panamá, y del Ing. Saúl García, director de Metrología Mecánica y Física. Del CENAM México asistió el Mtro Gabriel Lugo, responsable de Vinculación.
En la reunión de trabajo se habló sobre las actividades sustantivas, algunos de los proyectos del INAOE y sobre el Laboratorio de Innovación en MEMS (LIMEMS) y sobre el CENAM Panamá. También se abordaron las perspectivas de colaboración.
La agenda del día incluyó visitas a los laboratorios de Microelectrónica, Microscopía Electrónica y Superficies Asféricas, y a la Cámara Schmidt.
Luis Enrique Erro # 1, Tonantzintla, Puebla, México, Código Postal 72840, Tel: (222) 266.31.00, difusion@inaoep.mx
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivs 2.5 Mexico License.
